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幅広いアプリケーションに対応するシステム実体顕微鏡のスタンダードモデルや、コストパフォーマンスに優れた使いやすい内斜系実体顕微鏡など、豊富なラインナップをご用意しております。

半導体デバイス・パッケージ・FPD・電子部品・素材・材料・精密金型など、多岐に渡る産業分野向けの工業用顕微鏡の用途に合わせ、顕微鏡本体をモジュール化。 観察方法や目的に応じてスタンド部や照明部の選択を可能にし、多彩な観察方法に対応しております。 電動タイプ/手動タイプ、反射照明専用型/透過照明併用型の4機種を用途に応じてお選びいただけます。

■HRX-01（フラッグシップモデル） 電動ズームレンズをラインナップ。 観察、記録、2D 計測、3D 計測、画像連結、コンタミ異物検査と機能の拡張性に富んだデジタルマイクロスコープです。 レンズ、スタンドの各種電動制御、4K モニタに対応しており、ハード面でもオペレータをサポート。 ■RX-100（スタンダードモデル） 拡大観察に必要な、観る・撮る・測るの機能には十分対応しつつ、シンプルな操作でご使用頂けます。 レンズラインナップがカバーする観察倍率域はフラッグシップモデルと同等です。

密封管式マイクロフォーカスX線発生装置とデジタルフラットパネル検出器を搭載したマイクロフォーカスX線検査装置です。

台湾を代表する外観検査機メーカーUtechzoneが提案する外観検査は、工場の省人化と検査品質の均一化に貢献するソリューションです。人手による検査基準の差異や、人手不足問題が改善でき、検査工程の改善に大きく寄与します。

従来のビッカース硬度計とは違い、圧子の押し込み深さから硬さを演算で求めます。 そのため圧痕を読取る必要はなく0.5μNの極微小な試験荷重を実現しました。 自動ステージを使用し、プログラム試験が可能です。複数の試験箇所を自動測定ができます。

10kNまでのスマートなオートグラフシリーズ。プラスチック・ゴム・繊維など各種材料の試験に最適。 ソフトウェアとの連動でスタンドアロン機としても使用可能。

FR-eシリーズから機能をアップグレードさせた高精度測定を叶えるデジタル式のロックウェル硬さ試験機（硬度計）。サイズラインアップも拡充し、幅広いサイズの試料測定に対応しています。

材料の機械的性質のミクロ評価に大きく貢献する微小硬度計。カラーフィルタの交換ができることで、鮮明な視野を実現し、低倍率から高倍率まで、最適な視野での圧痕計測が行えます。

多点測定時の圧痕計測やステージコントロールの自動化により、作業者ごとの測定結果のばらつきを低減。硬さ試験の作業時間と作業者の疲労を大幅に削減することで生産性向上に貢献します。

温度範囲と内容量、計装で合計16器種をご用意。使用目的に合わせてお選びいただけます。 高温試験器のため、温度過昇に対しては3重の安全装置を装備しています。

タッチパネルを採用した簡単に元素分析ができる蛍光X線分析装置です。 一般的な定性定量分析（FP法・検量線法）や、RoHS元素のスクリーニング機能を備えています。 ハードウェア・ソフトウェア両面の各種オプションにより、さらに幅広い分析が可能です

高分解能・高感度を誇る各種FT-IRと、自動化を追求した赤外顕微鏡ユニットなどの各種付属装置をリリース。電子・電気・半導体分野の微小パーツ（ICチップなど）上の不具合箇所の定性や、さまざまな構造解析・非破壊測定の現場で活用されており、高い評価を得ています。

「誰でもSEM/EDSを操作できる」がコンセプトの卓上走査電子顕微鏡です。 光学像を拡大すればSEM像が観察できる「Zeromag」、分析装置を立ち上げなくても観察中の視野の元素が分かる「Live Analysis」、SEM観察中に三次元観察が可能な「Live 3D」等の機能を搭載しました。

サブミクロンの微粒子を、危険なレーザー光や複雑なカメラシステムを使用せず、光源単体で目視による観察を可能にした世界初の可視化システムです。これまで熟練者や専用機器でしかできなかった微粒子観察が簡単な操作で可能となり、生産現場の作業効率を向上させます。

多彩な立体部品の寸法・形状をより高速・高精度に自動測定。サンプルに応じたきめ細かな設定が可能。 従来機種の「NEXIV VMZ-R」シリーズの精度を維持しながら、更なる高スループット化を実現しました。

使いやすさを極めた高性能iNEXIV VMAシリーズ。 高解像度光学系の採用による高い測定精度と、広視野表示をはじめとした使いやすさを同時に実現しています。

プローブ先端にあるルビー（接触子）を対象に接触させ、三次元座標値により計測する機械が三次元測定機です。プローブ先端の接触角度を可変させることができ、側面の情報が取得可能です。測定対象の「平面」「円」「線」などのデータを取得し、「角度」「距離」「幾何公差」の測定を行います。

内蔵エンコーダにより各関節の角度を検出。可動軸の角度を演算し測定プローブの三次元位置を検出します。この位置データを使うことで測定対象の「平面」「円」「線」などのデータを取得し、「角度」「距離」「幾何公差」の測定が可能です。

高さ測定や大型サンプルの測定など、さまざまなニーズに応じた組み合わせが選択できます。 電子部品、樹脂成型品、金属加工部品、工具など、幅広い業種での部品測定に適した測定顕微鏡です。

広い測定範囲に加え、デジタルプロトラクター&デジタルカウンターの内臓で優れた操作性を実現。スクリーン有効径の大きさによって選択できるラインアップを揃えています。